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電子產(chǎn)品鹽霧測(cè)試怎么做？
發(fā)布時(shí)間：2022-09-02 175
　　在電子產(chǎn)品使用過(guò)程中，包括電腦、路由器、手機(jī)、攝像頭等等，都會(huì)遇到產(chǎn)品的老化以及被腐蝕的問(wèn)題。那么，確定腐蝕和老化的影響非常重要，而鹽霧腐蝕就是一種常見(jiàn)和最有破壞性的大氣腐蝕。

　　鹽霧測(cè)試為了考核產(chǎn)品或金屬材料的耐鹽霧腐蝕質(zhì)量，而鹽霧試驗(yàn)結(jié)果判定正是對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量的宣判，它的判定結(jié)果是否正確合理，是正確衡量產(chǎn)品或金屬抗鹽霧腐蝕質(zhì)量的關(guān)鍵。

　　電子產(chǎn)品鹽霧測(cè)試等級(jí)判定標(biāo)準(zhǔn)

 
　　GB/T 6461-2002金屬基體上金屬和其他無(wú)機(jī)覆蓋層經(jīng)腐蝕試驗(yàn)后的試
 
　　ISO 10289-1999金屬制件上金屬和其他無(wú)機(jī)覆蓋層經(jīng)腐蝕試驗(yàn)的試驗(yàn)
 
　　GB/T2423.17—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ka：鹽霧試驗(yàn)方法》
 
　　GB/T2423.18—2000《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)試驗(yàn)Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）》


 
 

　　電子產(chǎn)品鹽霧測(cè)試流程

 
　　1、項(xiàng)目申請(qǐng)
 
　　2、資料準(zhǔn)備
 
　　3、產(chǎn)品測(cè)試
 
　　4、編制報(bào)告
 
　　5、遞交審核
 
　　6、簽發(fā)證書(shū)

　　電子產(chǎn)品鹽霧測(cè)試機(jī)構(gòu)


　　中科檢測(cè)開(kāi)展電子產(chǎn)品鹽霧測(cè)試，根據(jù)不同產(chǎn)品不同性能，使用不同的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，但由于電子產(chǎn)品腐蝕的因素較多，單一的抗鹽霧測(cè)試不能代替其他介質(zhì)的性能，所以測(cè)試過(guò)的試驗(yàn)結(jié)果不能作為被測(cè)材料在所有使用環(huán)境抗腐蝕性能的直接指南。

　　盡管如此，鹽霧測(cè)試仍可作為檢驗(yàn)被試材料有或無(wú)防蝕性能的一種方法。
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