SEM用于觀察標本的表面結(jié)構(gòu)，其工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品，在樣品表面激發(fā)出次級電子，次級電子的多少與電子束入射角有關(guān)，也就是說與樣 品的表面結(jié)構(gòu)有關(guān)，次級電子由探測體收集，并在那里被閃爍器轉(zhuǎn)變?yōu)楣庑盘枺俳?jīng)光電倍增管和放大器轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘杹砜刂茻晒馄辽想娮邮膹姸?，顯示出與電子束同步的掃描圖像。圖像為立體形象，反映了標本的表面結(jié)構(gòu)。
中科檢測開展SEM能譜檢測服務(wù)，可為高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物等產(chǎn)品提供專業(yè)的SEM能譜檢測、定性分析、半定量分析、元素分析等服務(wù)。

1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；
2、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態(tài)成分的鑒定；
3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測；
4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領(lǐng)域；
5、進行材料表面微區(qū)成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、線、點分布分析。

SEM能譜檢測、定性分析、半定量分析、元素分析等。

GB/T 35099-2018 微束分析 掃描電鏡-能譜法 大氣細粒子單顆粒形貌與元素分析
GB/T 17359-2012 微束分析 能譜法定量分析
GB/T 15244-2013 微束分析 硅酸鹽玻璃的定量分析 波譜法及能譜法
DB44/T 1215-2013 利用掃描電子顯微術(shù)和X射線能譜法表征單壁碳納米管的特性